Tester-Einsatzgebiete

Fertigung von elektronischen Komponenten und Baugruppen, Forschung und Entwicklung,
Concurrent Engineering, Reparatur von Modulen und Baugruppen,
Service und Qualitätssicherung,Testung von analogen und digitalen Modulen,
Mixed Signal Test, FPGA- und ASIC-Verifikation, Wareneingangsprüfung, ...

 In-Circuit- und Funktionstest

Semiconductor- und Komponententest

Kombinationstestsystem
CT350 Comet T - neu -

konstruktive Ausführung als
fahrbarer Tisch
In-Circuit- und Funktionstest
 mit High Pin Count Interface
 

Testsystem CT350 Comet S
 High-Speed Semiconductor-
 und Komponententester
 mit multi-funktionalem
 Testsignalinterface

Kombinationstestsystem
CT350 Comet
In-Circuit- und Funktionstest
 mit High Pin Count Interface
 

Kombinationstestsystem
CT350 Comet R
 In-Circuit-, Funktionstest
 mit High Pin Count Interface
 und CT3xx Power Rack

CT300 Meteor In-Line Tester

Testsystemserie CT300
High-Speed Tester
        
 CT300 Galaxy
 CT300 Meteor
 CT300 Satellite
      
 Kombinationstest,
 MDA, In-Circuit- und
 Funktionstest,
 IC- und Komponententest
 

In-Line Testsystem
  mit CT300 Meteor
 

  CT3xx Power Rack

CT3xx Power Rack
 ergänzt die Systeme mit
 konfigurierbaren Modulen
 für Funktionstests bis zu
 einer Leistung von 6000 W





 

Besondere Tester-Eigenschaften

- 100, 300, 500 MS/s o. 1GS/s, d.h. volldynamische Testungen sind möglich
- Programmierbare Pegel und Delays für digitale Stimuli
- Kurze Rüstzeiten durch automatischen Testprogrammgenerator, Teach-In- Funktionen
- Pattern-Übernahme von Logiksimulatoren
- vollgrafische Bedienoberfläche
- Modularsysteme
- Präzise Takte durch Frequenzsynthesizer
- Ergänzung weiterer Prüftechnik ist durch offene Systemarchitektur relativ problemlos möglich
- Ersatz verschiedener Test- und Meßgeräte durch einen einzigen Kompakttester
 

Hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis

Technische Änderungen vorbehalten. © Dr. Eschke Elektronik GmbH. All rights reserved