Dr. Eschke Elektronik


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	Innovative Testsysteme


	Entwicklung, Fertigung, Vertrieb von elektronischen Testsystemen seit 1990.

In-Circuit- und Funktionstester

Semiconductor- und IC-Tester


	- 300 MS/s digital, 1 GS/s analog - Analog Resolution 24 Bit - Current Resolution 1 nA - Leistungen bis 10 kW (verschiedene U, I) - Schnelle Impulsmessverfahren - Vollgrafik-Funktionen - USB2.0-Übertragung zwischen Tester und PC

	Board-Tester

	Komponententester

	- Moderne Kombinationstester - Mixed Signal-Tests - Kurze Testzeiten, hoher Durchsatz - Modulare und kompakte Systeme - Vollständige Problemlösungen - Schneller und zuverlässiger Support - Sehr gutes Preis-Leistungsverhältnis




		Kompakte Leistung für innovative Technik. Mehr als 670 Systeme weltweit im Einsatz.

Dr. Eschke Elektronik GmbH
Bachstr. 21
D-12623 Berlin

Tel: +49(0)30-56701669
Fax: +49(0)30-56701689

High Speed Combinational Tester

> CT300 Satellite
> CT300 Meteor
> CT300 Galaxy
> CT350 Comet
> CT350 Comet S
> CT350 Comet R
> CT350 Comet T - neu -
- In Circuit Tester, MDA
- Funktionstest mit 300 MS/s
- Analogtest mit 1 GS/s

Testsystem CT350 Comet T

News

> Start der Kooperation mit der WG-Test GmbH
Die Vertragsunterzeichnung erfolgte durch
Walter Grandjot und Dr. Gert Eschke im August 2010.

> “Durch und durch individuell”
> “Geballte Testpower”
> Neues Tester Operating System “Test OS4”
> Boundary Scan Test Light
> Color Detection Sensor CDS für erweiterten LED-Test
> Testermodul AM30-4
> Neue Zweigstelle Deutschland Zentral
> Testsystem CT350 Comet R
> Precision Tester Modules 24 Bit Res.
> Parallel Board-Test
> Import von Teradyne J971^TMTestvektoren

Messen / Termine

Nürnberg, 08. - 10.05.2012
Halle 6 / Stand 314

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