Innovative Testsysteme für Fertigung, Entwicklung und Service
In-Circuit-Tester Funktionstester Komponententester Inline Tester Halbleitertester Boundary Scan Test AOI Tests
News Herr Dipl.-Ing. (FH) Schmieder ist Geschäftsführer Herr Dipl.-Ing. (FH) Ziehnert ist Leiter Software Analogmodul AM30-4B, 30 V, 300 mA, 24 Bit Import von Daten im Format ODB++  Software-Paket “CTestAdvisor” zur Entwicklung und Ausführung von Testfunktionen Hochvolt-Digitalmodul DM300-32HV, 32 V, 15 MS/s Boundary Scan Test um Göpel CASCON erweitert Herr Dipl.-Ing. (FH) Saß ist Leiter Service Kooperation mit ATEcare Service GmbH & Co. KG CT3xx - Boundary Scan Test und AOI-Testfunktionen
Messen / Termine                      productronica 2017               Messe München, 14. - 17.11.2017 Bitte klicken Sie hier für eine Terminvereinbarung.
Besondere Eigenschaften  Einheitliche Bedien-Software mit offener Systemstruktur  Sampling-Raten 300, 500 MS/s o. 1GS/s  programmierbare Pegel, Frequenzen und Delays  automatischer Testprogrammgenerator  Teach-In- Funktionen  Testabdeckungsanalyse, Logging und Statistik  Ersatz verschiedener Test- und Messgeräte In-circuit Test, Funktionstest, Boundary Scan Test, AOI-Testfunktionen in einem einzigen Kompakttester
CT3XX Testerfamilie - was bedeutet das für Sie?   frei skalierbare Modultechnik   einheitliches Tester-Bussystem   einheitliche Betriebs-Software   Module zwischen Testertypen austauschbar   Testerressourcen nach Bedarf         Flexibilität und geringe Kosten
Die Anforderungen unserer Kunden bestimmen Inhalt und Richtung der Tester-Entwicklungen. Ihnen steht unsere mehr als 25-jährige Erfahrung zu Testsystemen zur Verfügung. Wir liefern Ihnen Testsysteme und Komplettlösungen zur Prüftechnik.
Inline-System der Siemens AG mit Dr. Eschke CT300 Meteor CT350 Comet PR
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Inline-System bei Digades mit Dr. Eschke CT300 Meteor