Dr. Eschke Elektronik 
  GmbH
  Headquarter
  Entwicklung, Produktion,
  Vertrieb und Support
 
 
 
  Deutschland
  Dr. Eschke Elektronik 
  GmbH
  Region Südwest
  Vertrieb, Support, Service
 
 
 
  Deutschland
  Regionen Nord, Südost
  Vertrieb, Support, Service
 
 
 
  Niederlande
  Vertrieb, Information 
 
 
  Prokorment, Niederlande
  Waterloop 3
  NL-2614 XC Delft 
  Hans Korpel      
  info(at)prokorment.nl   
  Telefon  +31 15 2121310
  
  
 
  Firmengeschichte, Technik
  2020
  CT350 Comet T EH, Paralleltest Option
  Neue Module: DM1G, XIMP20, PSM2M
  Software: Ergänzungen Digitaltest, Ergänzungen Logging 
  & Statistik, TCP/IP Interface, neue Funktionen
  2017
  Neue Module: SA5-E, AM30-4B, CDM24
  Software: Ergänzungen CAN, neue Funktionen, 
  CDM24, server-basierte Reparatur Station
  2015
  Neue Module: UEM3, XPR5, DM300-32HV
  Software: Ergänzungen Logging, neue Funktionen, 
  Boundary Scan erweitert inkl. Integration Göpel-BST
  2013
  Kompakt-Tester CT350 Comet C, Steuermodul 
  SM2-5 mit neuem Prozessor, Thermostreamer mit 
  Kopplung an Testsysteme 
  2011
  High Voltage Relaismatrix SC370, 370 Vss
  2010
  Testsystem für optoelektronische Messungen 
  CT300 Satellite opt, Universelles Interface Modul UIF
  2009
  CT350 Comet T, Analogmodul AM30-4, Boundary 
  Scan Test, Tester Operating System “TestOS4”
  2007
  Semiconductor- und Kombinationstester CT350 
  Comet R und CT3xx Power Rack, Digitalmodul mit Timing 
  per Pin, neues PMU Modul und High Speed Scope Modul
  2006
  Semiconductor- und Komponententester CT350 
  Comet S, Innovative Scanner, neue Testverfahren, High 
  Pin Count Interfaces
  2005
  High-Speed Kombinationstester Serie CT300 mit 
  CT300 Galaxy, CT300 Meteor und CT300 Satellite, 
  Testsystem für Eisenbahn-Sicherungstechnik T-B2
  2004
  Board-Tester, Semiconductor-Tester und Final-
  Tester CT300 Basic System mit USB2.0 Interface (480 
  MBit/s), High Voltage and Power Module, T-B1 
  Testsystem für Eisenbahn-Sicherungstechnik
 
 
  2003
  Neue MDA-Techniken, High Speed Logic, 
  schnelle Impulsmessverfahren, Test Automotive-
  Module
  2001
  High Speed Kombinationstester CT250 und 
  CT250M, Chip-Card-Tester DAT100-CD, 
  Entwicklungen für High Speed 
  Übertragungstechniken STM1, STM4
  1999
  ATM-Tester DAT-ATM für Test UTOPIA, 
  CellBus, ATM-Übertragungstechniken mit Einsatz von 
  RISC/DSP, ATM-Switches, GTL 
  1998
  Funktionstester DAT500 mit 500 MS/s 
  analogen und 100 MS/s 1024 digitalen Kanälen, 
  Entwicklungen von Internetworking Units für ATM
  1997
  Tester DAT-IrDA für Infrarot-Sende-Empfangs-
  Bauelemente, Prüftechniken ATM, STM-1, STM-4
  1996
  Digital-Analog-Tester DAT100M mit 100 MS/s 
  analogen und 1024 digitalen Kanälen, 
  kundenspezifische Prüftechniken mit unseren 
  Testbern für den Test von SPS-Bus, FAX-Bus, VME-
  Bus
  1995
  Digital-Analog-Tester DAT100 mit 100 MS/s 
  analogen und 256 digitalen Kanälen, Entwicklung von 
  Gigabit-Transceivern für Fiber Optic, Fiber Channel
  1993
  Digital-Tester DT30 mit 50 MS/s digitalen 88 
  Kanälen, Software für digitale Schutztechnik im 
  Mittelspannungsbereich und Fernwirktechnik
  1990
  Digital-Tester DKTS-2 mit 30 MS/s digitalen 88 
  Kanälen, Entwicklungen für Fiber Optic TRX, FDDI
 
  
  
 
  Gründung des Unternehmens 1990
 
 
  Mehr als 750 Testsysteme sind international im Einsatz.
 
 
  Deutschland
  Niederlande
  Österreich
 
 
  Schweiz
  China
  Malaysia
 
 
  Rumänien
  Slowenien
  Malta
 
 
  Philippinen
  Singapur
  Ungarn
 
 
  Norwegen
  Tschechien
 
 
   
 
 
   
   
 
  
 
 
  Verkauf nur an Unternehmen, technische Änderungen vorbehalten. © Dr. Eschke Elektronik GmbH. All rights reserved.
 
 