News High Speed Digitalmodul DM1G mit 16 oder 32 MSteps, programmierbare Bitrate bis zu 1.5 GS/s und 6 GS/s Timing Resolution in Burst Mode Neues Modul XIMP20 für die Messung kleiner Kapazitäten und Induktivitäten SQL-Export/Import-Funktion im “CT - Test Data Logging” TCP/IP Interface - Server und Client Funktionalität mit dem CT-Control Program ParetoX-Diagramm - Visualisierung des Prüfprozesses in Echtzeit Repair Station mit server-basierter Logging- und Reparaturdatenverwaltung High Speed Color Analyzer CDM24 Analogmodul AM30-4B, 30 V, 300 mA, 24 Bit

    

Besondere Eigenschaften  Leistungsfähiges systemoffenes Tester-Betriebsystem CTestAdvisor • interpreterbasierter Testsequenzer mit offener Systemstruktur • Steuerung der CT3xx Kombinationstestsysteme • effektive Integration externer Geräte, Systeme und Software • CAD- und Testdaten Import • automatischer Testprogrammgenerator • Testabdeckungsanalyse, Logging und Statistik • einfache Anbindung an Quality Management Systeme • papierlose Reparatur  High Speed Mixed Signal-Test  Sampling-Raten bis zu 6 GS/s digital u. 5 GS/s analog  Programmierbare Pegel, Frequenzen und Delays  Teach-In- Funktionen  Flexible Kombination von Testverfahren  Ersatz verschiedener Test- und Messgeräte In-circuit Test, Funktionstest, Boundary Scan Test, AOI-Testfunktionen in einem einzigen Kompakttester